Банк рефератов содержит более 364 тысяч рефератов, курсовых и дипломных работ, шпаргалок и докладов по различным дисциплинам: истории, психологии, экономике, менеджменту, философии, праву, экологии. А также изложения, сочинения по литературе, отчеты по практике, топики по английскому.
Полнотекстовый поиск
Всего работ:
364139
Теги названий





Разделы
Авиация и космонавтика (304)
Административное право (123)
Арбитражный процесс (23)
Архитектура (113)
Астрология (4)
Астрономия (4814)
Банковское дело (5227)
Безопасность жизнедеятельности (2616)
Биографии (3423)
Биология (4214)
Биология и химия (1518)
Биржевое дело (68)
Ботаника и сельское хоз-во (2836)
Бухгалтерский учет и аудит (8269)
Валютные отношения (50)
Ветеринария (50)
Военная кафедра (762)
ГДЗ (2)
География (5275)
Геодезия (30)
Геология (1222)
Геополитика (43)
Государство и право (20403)
Гражданское право и процесс (465)
Делопроизводство (19)
Деньги и кредит (108)
ЕГЭ (173)
Естествознание (96)
Журналистика (899)
ЗНО (54)
Зоология (34)
Издательское дело и полиграфия (476)
Инвестиции (106)
Иностранный язык (62791)
Информатика (3562)
Информатика, программирование (6444)
Исторические личности (2165)
История (21319)
История техники (766)
Кибернетика (64)
Коммуникации и связь (3145)
Компьютерные науки (60)
Косметология (17)
Краеведение и этнография (588)
Краткое содержание произведений (1000)
Криминалистика (106)
Криминология (48)
Криптология (3)
Кулинария (1167)
Культура и искусство (8485)
Культурология (537)
Литература : зарубежная (2044)
Литература и русский язык (11657)
Логика (532)
Логистика (21)
Маркетинг (7985)
Математика (3721)
Медицина, здоровье (10549)
Медицинские науки (88)
Международное публичное право (58)
Международное частное право (36)
Международные отношения (2257)
Менеджмент (12491)
Металлургия (91)
Москвоведение (797)
Музыка (1338)
Муниципальное право (24)
Налоги, налогообложение (214)
Наука и техника (1141)
Начертательная геометрия (3)
Оккультизм и уфология (8)
Остальные рефераты (21692)
Педагогика (7850)
Политология (3801)
Право (682)
Право, юриспруденция (2881)
Предпринимательство (475)
Прикладные науки (1)
Промышленность, производство (7100)
Психология (8692)
психология, педагогика (4121)
Радиоэлектроника (443)
Реклама (952)
Религия и мифология (2967)
Риторика (23)
Сексология (748)
Социология (4876)
Статистика (95)
Страхование (107)
Строительные науки (7)
Строительство (2004)
Схемотехника (15)
Таможенная система (663)
Теория государства и права (240)
Теория организации (39)
Теплотехника (25)
Технология (624)
Товароведение (16)
Транспорт (2652)
Трудовое право (136)
Туризм (90)
Уголовное право и процесс (406)
Управление (95)
Управленческие науки (24)
Физика (3462)
Физкультура и спорт (4482)
Философия (7216)
Финансовые науки (4592)
Финансы (5386)
Фотография (3)
Химия (2244)
Хозяйственное право (23)
Цифровые устройства (29)
Экологическое право (35)
Экология (4517)
Экономика (20644)
Экономико-математическое моделирование (666)
Экономическая география (119)
Экономическая теория (2573)
Этика (889)
Юриспруденция (288)
Языковедение (148)
Языкознание, филология (1140)

Реферат: «Кинетический фазовый контраст в атомно-силовой микроскопии»

Название: «Кинетический фазовый контраст в атомно-силовой микроскопии»
Раздел: Остальные рефераты
Тип: реферат Добавлен 15:31:15 23 июля 2012 Похожие работы
Просмотров: 15 Комментариев: 12 Оценило: 0 человек Средний балл: 0 Оценка: неизвестно     Скачать

Реферат

на работу группы авторов Щеглов Д.В., Латышев А.В., Попков В.Ю.

«Кинетический фазовый контраст в атомно-силовой микроскопии»

Значительный прогресс в структурной диагностике низкоразмерных систем достигнут благодаря развитию и широкому применению методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ): сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), атомно-силовой микроскопии (АСМ) и др. Эти методы, основанные на эффектах взаимодействия твердотельной иглы с исследуемой поверхностью, стали основными инструментариями структурных исследований поверхности в физике, геологии, химии, биологии и медицине. Относительная простота интерпретации получаемых изображений при высокой разрешающей способности и прецизионной точности измерений зондовой микроскопии позволяет решать многочисленные задачи, которые невозможно решить другими экспериментальными методами.

Достоинством методов сканирующей зондовой микроскопии является возможность получения трехмерного изображения рельефа поверхности, формирование которого оптической или электронной микроскопией затруднено и сопряжено со значительными математическими расчетами. Преимуществом АСМ диагностики также является способность получения карт распределения по поверхности ряда параметров, таких как потенциал, уровень легирования, кулоновский заряд, электрическая емкость, намагниченность, твердость, оптические характеристики и др.

Способность прецизионного позиционирования острозаточенного зонда относительно исследуемого образца с точностью до единиц нанометров, а в нормальных координатах до долей ангстрема, открывает возможность применения СЗМ не только для диагностики, но и для литографии в нанометровом диапазоне.

Развитие полуконтактных резонансных методик в атомно-силовой микроскопии позволило не только улучшить чувствительность, но и расширить область применения методов СЗМ. В основе полуконтактной методики АСМ лежит регистрация амплитуды и сбоя фазы резонансных колебаний зонда при его взаимодействии с поверхностью [1]. Методика АСМ, регистрирующая сбой фазы колебаний зонда, получила название метода фазового контраста. В работе [2] приведена обобщающая модель взаимодействия зонда с поверхностью, в которой учитывается энергия диссипации колебаний зонда АСМ при соприкосновении с поверхностью.

Целью данного цикла работ являлся детальный анализ механизмов взаимодействия резонансно колеблющегося зонда АСМ с подложкой при латеральном движении вдоль неё.

В результате проведенной работы изучен механизм формирования фазового контраста, инициированного сбоем колебаний осциллирующего зонда атомно-силового микроскопа при различных условиях его взаимодействия с поверхностью. Обоснован кинетический механизм формирования фазового контраста, проявляющийся при увеличении скорости передвижения зонда АСМ по поверхности подложки вследствие увеличения силы трения. Предложена модель движения зонда по поверхности, учитывающая шероховатость иглы и поверхности, силы прижима иглы к поверхности, скорость передвижения иглы по поверхности.

Методом кинетического фазового контраста АСМ получены изображения распределения примесей меди и золота по поверхности кремния в атмосферных условиях. На основании результатов исследования подана заявка на изобретение. Изобретение относится к анализу материалов, а именно к способам анализа трения в наноразмерных масштабах на поверхности твердых тел посредством использования фазового контраста атомно-силовой микроскопии, в частности, к способам измерения трения на поверхности твердых тел.

Список литературы

1. Tamayo J., Garcia R. Effects of elastic and inelastic interactions on phase contrast images in tapping-mode scanning force microscopy // Appl. Phys. Lett. 1997. V. 71. P. 2374.

2. Martinez N. F., Garcia R. Measuring phase shifts and energy dissipation with amplitude modulation atomic force microscopy // Nanotechnology 2006. V.17. P. S167-S172

Оценить/Добавить комментарий
Имя
Оценка
Комментарии:
Хватит париться. На сайте FAST-REFERAT.RU вам сделают любой реферат, курсовую или дипломную. Сам пользуюсь, и вам советую!
Никита21:26:46 05 ноября 2021
.
.21:26:44 05 ноября 2021
.
.21:26:42 05 ноября 2021
.
.21:26:39 05 ноября 2021
.
.21:26:37 05 ноября 2021

Смотреть все комментарии (12)
Работы, похожие на Реферат: «Кинетический фазовый контраст в атомно-силовой микроскопии»

Назад
Меню
Главная
Рефераты
Благодарности
Опрос
Станете ли вы заказывать работу за деньги, если не найдете ее в Интернете?

Да, в любом случае.
Да, но только в случае крайней необходимости.
Возможно, в зависимости от цены.
Нет, напишу его сам.
Нет, забью.



Результаты(294402)
Комментарии (4230)
Copyright © 2005 - 2024 BestReferat.ru / реклама на сайте